Solid State Technology Association

Temperature, Bias, and Operating Life
 N JESD22-A108E

Annotation

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices’ operating condition in an accelerated way, and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as burn-in, may be used to screen for infant mortalityrelated failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this document.

Автоматический перевод:

Температура, предвзятость и срок службы

Этот тест используется для определения эффектов условий предвзятости и температуры на полупроводниковых приборах со временем. Это моделирует условия работы устройств ускоренным способом и, прежде всего, для контроля квалификации и надежности устройства. Форма жизни предвзятости высокой температуры с помощью короткой продолжительности, обычно известной как выжигание дефектов, может использоваться для отбора на несовершеннолетние mortalityrelated неудачи. Подробное использование и заявление на выжигание дефектов выходят за рамки этого документа.