0 продуктов

Авторизация

ISO 16700 Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification - Second Edition

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Organization for Standardization

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification - Second Edition
 N 16700

 

Annotation

 

This International Standard specifies a method for calibrating the magnification of images generated by a scanning electron microscope (SEM) using an appropriate reference material. This method is limited to magnifications determined by the available size range of structures in the calibrating reference material. This International Standard does not apply to the dedicated critical dimension measurement SEM.

 

Автоматический перевод:

 

Анализ микролуча - Сканирование электронной микроскопии - Рекомендаций для калибровки усиления изображения - Второй Выпуск

Этот Международный стандарт указывает метод для калибровки усиления изображений, сгенерированных растровым электронным микроскопом (SEM) с помощью соответствующего справочного материала. Этот метод ограничен усилениями, определенными доступным рядом размеров структур в справочном материале калибровки. Этот Международный стандарт не относится к специализированному критическому измерению измерения SEM.

 

Эквиваленты данного стандарта:

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ