Deutsches Institut fur Normung e. V.

Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency (IEC 61338-1-5:2015)
 N EN 61338-1-5

Annotation

Mikrowellenschaltungen werden im Allgemeinen auf organischen oder nicht organischen Mehrlagensubstraten gefertigt. In den Mikrowellenschaltungen wird die Dampfung von planaren Ubertragungsleitungen, z. B. Streifenleitungen, Mikrostreifenleitungen und Koplanarleitungen, durch ihre Leiterverluste, dielektrischen Verluste und Strahlungsverluste bestimmt. Dabei spielen die Leiterverluste eine wesentliche Rolle bei der Dampfung der planaren Ubertragungsleitungen. In diesem Dokument wird ein neues Messverfahren zur Bewertung der Leitfahigkeit einer Ubertragungsleitung auf oder in den Tragern, z. B. organischen, keramischen oder LTCC(Niedertemperatur-Einbrand-Keramik-)-Tragern (LTCC – en: low temperature cofired creamics), festgelegt. Diese Norm beschreibt ein Messverfahren fur den Widerstand und die effektive Leitfahigkeit an der Grenzflache zwischen Leiterschicht und dielektrischem Trager, die als Grenzflachenwiderstand bzw. Grenzflachenleitfahigkeit bezeichnet werden.

Dieses Messverfahren weist die folgenden Merkmale auf:

- Der Grenzflachenwiderstand Ri wird aus den Messwerten der Resonanzfrequenz f0 und der Leerlaufgute Qu eines dielektrischen TE01?-Moden-Stabresonators nach Bild 2 bestimmt.

- Die Grenzflachenleitfahigkeit ? i und die relative Grenzflachenleitfahigkeit ?ri = ? i / ?0 werden aus dem ermittelten Wert von Ri berechnet, wobei ?0 = 5,8 ? 107 S/m die Leitfahigkeit von Standardkupfer ist.

– Die Messunsicherheit fur ?ri (??ri) betragt weniger als 5 %.