BSI BS ISO 16700 Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 01.040
- 71
- ISO GUIDE 30 AMD 1 Terms and definitions used in connection with reference materials Amendment 1 Revision of definitions for reference material and certified reference material - Second Edition
- 71.040
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 3
- BSI PD IEC/TS 62622 Nanotechnologies - Description, measurement and dimensional quality parameters of artificial gratingsНанотехнологии - Описание, измерение и размерные качественные параметры искусственного gratings
Карточка документа - BSI BS ISO 13067 Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain sizeАнализ микролуча - Электронная дифракция обратного рассеяния - Измерение среднего размера зерна
Карточка документа - BSI BS ISO 22309 Microbeam analysis - Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or aboveАнализ микролуча - Количественный анализ с помощью дисперсионной энергией спектрометрии (EDS) для элементов с атомным числом 11 (На) или выше
Карточка документа
