IEC 62132-1 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 1: General conditions and definitions - Edition 1.0
На него ссылаются
- В списке элементов: 17
- BSI PD IEC/TR 61967-1-1 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions Part 1-1: General conditions and definitions - Near-field scan data exchange formatИнтегральные схемы - Измерение электромагнитной Части 1-1 эмиссии: Общие условия и определения - почти полевой формат обмена данных сканирования
Карточка документа - IEC TR 61967-1-1 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions – Part 1-1: General conditions and definitions – Near-field scan data exchange format - Edition 2.0Интегральные схемы – Измерение электромагнитной эмиссии – Часть 1-1: Общие условия и определения – почти полевой формат обмена данных сканирования - Выпуск 2.0
Карточка документа - IEC TS 62239-1 Process management for avionics – Management plan – Part 1: Preparation and maintenance of an electronic components management plan - Edition 2.0Управление процессами для авиационной радиоэлектроники – Плана управления – Часть 1: Подготовка и обслуживание плана управления электронными компонентами - Издание 2.0
Карточка документа - BSI PD IEC/TS 62132-9 Integrated circuits — Measurement of electromagnetic immunity Part 9: Measurement of radiated immunity — Surface scan methodИнтегральные схемы — Измерение электромагнитной Части 9 неприкосновенности: Измерение излученной неприкосновенности — Поверхностный метод проверки
Карточка документа - IEC TS 62132-9 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 9: Measurement of radiated immunity – Surface scan method - Edition 1.0Интегральные схемы – Измерение электромагнитной неприкосновенности – Часть 9: Измерение излученной неприкосновенности – Поверхностного метода проверки - Выпуск 1.0
Карточка документа - CEI EN 62132-8 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline methodИнтегральные схемы - Измерение электромагнитной Части 8 неприкосновенности: Измерение излученной неприкосновенности - полосковый метод IC
Карточка документа - BSI BS EN 62132-8 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline methodИнтегральные схемы - Измерение электромагнитной неприкосновенности - Часть 8: Измерение излученной неприкосновенности - полосковый метод IC
Карточка документа - CENELEC EN 62132-8 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline methodИнтегральные схемы - Измерение электромагнитной неприкосновенности - Часть 8: Измерение излученной неприкосновенности - полосковый метод IC
Карточка документа - IEC 62132-8 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 8: Measurement of radiated immunity – IC stripline method - Edition 1.0Интегральные схемы – Измерение электромагнитной неприкосновенности – Часть 8: Измерение излученной неприкосновенности – полоскового метода IC - Выпуск 1.0
Карточка документа - BSI BS EN 62132-2 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell methodИнтегральные схемы - Измерение электромагнитной Части 2 неприкосновенности: Измерение излученной неприкосновенности - ячейка TEM и широкополосный метод ячейки TEM
Карточка документа - IEC 62132-2 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 2: Measurement of radiated immunity – TEM cell and wideband TEM cell method - Edition 1.0Интегральные схемы – Измерение электромагнитной неприкосновенности – Часть 2: Измерение излученной неприкосновенности – ячейки TEM и широкополосного метода ячейки TEM - Выпуск 1.0
Карточка документа - BSI BS EN 62132-3 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 3: Bulk current injection (BCI) methodИнтегральные схемы - Измерение электромагнитной неприкосновенности, от 150 кГц до 1 ГГц - Часть 3: метод объемной инжекции тока (BCI)
Карточка документа - IEC 62132-3 Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz – Part 3: Bulk current injection (BCI) method - Edition 1.0Интегральные схемы – Измерение электромагнитной неприкосновенности, от 150 кГц до 1 ГГц – Часть 3: метод объемной инжекции тока (BCI) - Выпуск 1.0
Карточка документа - BSI DD IEC/TS 62228 Integrated circuits - EMC evaluation of CAN transceiversИнтегральные схемы - оценка EMC приемопередатчиков CAN
Карточка документа - BSI BS EN 62132-4 Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz Part 4: Direct RF power injection methodИзмерение интегральных схем электромагнитной неприкосновенности от 150 кГц до Части 4 на 1 ГГц: Прямой метод инжекции питания RF
Карточка документа - BSI BS EN 62132-5 Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Workbench Faraday cage methodИзмерение интегральных схем электромагнитной неприкосновенности, от 150 кГц до Части 5 на 1 ГГц: метод Клетки Фарадея Инструментальных средств
Карточка документа - IEC 62132-5 Integrated circuits Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz Part 5: Workbench Faraday cage method - Edition 1.0Измерение интегральных схем электромагнитной неприкосновенности, от 150 кГц до Части 5 на 1 ГГц: метод Клетки Фарадея Инструментальных средств - Выпуск 1.0
Карточка документа
