ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
International Organization for Standardization
Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
N 14606
Автоматический перевод:
Поверхностный химический анализ - профилирование глубины брызг - оптимизация Используя слоистые системы как справочные материалы - первый выпуск
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials
- JSA JIS K 0146 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
