ISO 18115-2 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
На него ссылаются
- В списке элементов: 4
- ISO 23833 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis (EPMA) - Vocabulary - Second EditionАнализ микропучка - Электронно-зондовый анализ (EPMA) - Словарь - Второй Выпуск
Карточка документа - ISO TS 10797 Nanotechnologies - Characterization of single-wall carbon nanotubes using transmission electron microscopy - First EditionНанотехнологии - Характеристика углеродных нанотрубок единственной стены с помощью микроскопии электрона передачи - Первый Выпуск
Карточка документа - ASTM E2859 Standard Guide for Size Measurement of Nanoparticles Using Atomic Force MicroscopyТипичный гид для измерения размера наночастиц Используя атомную микроскопию силы
Карточка документа - ASTM E1217 Standard Practice for Determination of the Specimen Area Contributing to the Detected Signal in Auger Electron Spectrometers and Some X-Ray Photoelectron SpectrometersОбщепринятая практика для определения области экземпляра, способствующей обнаруженному сигналу в спектрометрах электрона сверла и некоторых спектрометрах фотоэлектрона рентгена
Карточка документа
