ASTM E996 Standard Practice for Reporting Data in Auger Electron Spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040.40
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First Edition
- ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second edition
- ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- ASTM E1078 Standard Guide for Specimen Preparation and Mounting in Surface AnalysisТипичный гид для подготовки к экземпляру и повышающийся в поверхностном анализе
Карточка документа - ASTM E995 Standard Guide for Background Subtraction Techniques in Auger Electron Spectroscopy and X-Ray Photoelectron SpectroscopyТипичный гид для фоновых методов вычитания в спектроскопии фотоэлектрона спектроскопии и рентгеновских лучей электрона сверла
Карточка документа - ASTM E983 Standard Guide for Minimizing Unwanted Electron Beam Effects in Auger Electron SpectroscopyТипичный гид для уменьшения нежелательных электронно-лучевых эффектов в спектроскопии электрона сверла
Карточка документа - ASTM E1127 Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron SpectroscopyТипичный гид для профилирования глубины в спектроскопии оже-электрона
Карточка документа
