ASTM E1438 Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- 71.040.40
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- 01.040
- ISO 18115-1 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 1: General terms and terms used in spectroscopy - First Edition
- ISO 16531 Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS - First Edition
- ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second edition
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 4
- BSI BS ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference MaterialsПоверхностный химический анализ - профилирование глубины брызг - оптимизация Используя слоистые системы как справочные материалы
Карточка документа - ISO 14606 Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials - Second editionПоверхностный химический анализ - профилирование глубины Брызг - Оптимизация с помощью выложенных слоями систем в качестве справочных материалов - Второй выпуск
Карточка документа - ASTM E1636 Standard Practice for Analytically Describing Depth-Profile and Linescan-Profile Data by an Extended Logistic FunctionОбщепринятая практика для аналитичного описания профиля глубины и данных Linescan-профиля расширенной логистической функцией
Карточка документа - BSI DD ISO/TR 15969 Surface Chemical Analysis - Depth Profiling - Measurement of Sputtered DepthПоверхностный химический анализ - профилирование глубины - измерение распыленной глубины
Карточка документа
