Растровая ионная микроскопия
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Нормы, правила, стандарты и законодательство России
- Техэксперт: Нефтегазовый комплекс
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
РАСТРОВАЯ ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Scanning ion microscopy
Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверхности объекта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0,1 до 1 нм.
Примечание - В качестве источника ионов используют гелий, неон и аргон.
РАСТРОВАЯ ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Scanning ion microscopy
Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение путем сканирования поверхности объекта сфокусированным ионным пучком диаметром от 0,1 до 1 нм.
