АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ

ACM (Нрк. сканирующая силовая микроскопия; ССМ)

atomic force microscopy; AFM; scanning force microscopy (deprecated); SFM (deprecated)

Метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зондового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.

Примечания

1 С помощью АСМ можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов.

2 В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (АСМ) перемещают образец в направлении осей , , , а кантилевер остается неподвижным, в других АСМ перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец.