0 продуктов

Авторизация

ISO 13067 Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size - First Edition

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Organization for Standardization

Microbeam analysis — Electron backscatter diffraction — Measurement of average grain size - First Edition
 N 13067

 

Annotation

 

This International Standard describes procedures for measuring average grain size derived from a twodimensional polished cross-section using electron backscatter diffraction (EBSD). This requires the measurement of orientation, misorientation and pattern quality factor as a function of position in the crystalline specimen[1].

NOTE 1 While conventional methods for grain size determination using optical microscopy are well-established, EBSD methods offer a number of advantages over these techniques, including increased spatial resolution and quantitative description of the orientation of the grains.

NOTE 2 The method also lends itself to the measurement of the grain size of complex materials, for example those with a significant duplex content.

NOTE 3 The reader is warned to interpret the results with care when attempting to investigate specimens with high levels of deformation.

 

Автоматический перевод:

 

Анализ микролуча — Электронная дифракция обратного рассеяния — Измерение среднего размера зерна - Первый Выпуск

Этот Международный стандарт описывает процедуры для измерения среднего размера зерна, полученного из двумерного полированного поперечного сечения с помощью электронной дифракции обратного рассеяния (EBSD). Это требует измерения ориентации, дезориентации и фактора качества образца как функция положения в кристаллическом экземпляре [1].

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ