International Organization for Standardization

Surface chemical analysis — Handling of specimens prior to analysis - First Edition
 N 18117

Annotation

This International Standard gives guidance on the handling of and the containers for specimens submitted for surface chemical analysis. It is intended for the user of surface analysis services as an aid in understanding the special sample handling requirements of surface chemical analysis techniques, particularly the following: Auger electron spectroscopy (AES), secondary-ion mass spectrometry (SIMS) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS or ESCA). The protocols presented may also be applicable to other analytical techniques, such as TXRF, that are sensitive to surface composition. In particular instances, with particular specimens, further precautions may be necessary.

Автоматический перевод:

Поверхностный химический анализ — Обработка экземпляров до анализа - Первый Выпуск

Этот Международный стандарт дает указания на обработку и контейнеры для экземпляров, представленных для поверхностного химического анализа. Это предназначается для пользователя поверхностных услуг по анализу как помощь в понимании специальных типовых требований обработки поверхностных методов химического анализа, особенно следующее: спектроскопия электрона сверла (AES), масс-спектрометрия вторичного иона (SIMS) и спектроскопия фотоэлектрона рентгена (XPS или ESCA). Представленные протоколы могут также быть применимыми к другим аналитическим методам, такими как TXRF, которые чувствительны к поверхностному составу. В определенных случаях, с определенными экземплярами, дальнейшие меры предосторожности могут быть необходимыми.