0 продуктов

Авторизация

BSI BS ISO 17331 + A1 Surface chemical analysis - Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy - AMD: September 30, 2010

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

British Standards Institution

Surface chemical analysis - Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy - AMD: September 30, 2010
 N BS ISO 17331 + A1

 

Автоматический перевод:

 

Поверхностный химический анализ - Химические методы для коллекции элементов от поверхности кремниевой пластины рабочие справочные материалы и их определение спектроскопией флуоресценции рентгена полного отражения (TXRF) - AMD: 30 сентября 2010

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ