International Organization for Standardization

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry - Second Edition
 N 17470

Annotation

This International Standard gives guidance for the identification of elements and the investigation of the presence of specific elements within a specific volume (on a m3 scale) contained in a specimen, by analysing X-ray spectra obtained using wavelength dispersive X-ray spectrometers on an electron probe microanalyser or on a scanning electron microscope.

Автоматический перевод:

Анализ микролуча - Электрон исследует микроанализ - Рекомендации для качественного анализа пункта длиной волны дисперсионная спектрометрия рентгена - Второй Выпуск

Этот Международный стандарт дает указания для идентификации элементов и расследования присутствия определенных элементов в определенном объеме (в масштабе m3) содержавшийся в экземпляре путем анализа Рентгеновских спектров, полученных с помощью длины волны дисперсионные Рентгеновские спектрометры на электронном микроанализаторе исследования или на сканирующем электронном микроскопе.