ISO TR 15969 Surface Chemical Analysis - Depth Profiling - Measurement of Sputtered Depth - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- BSI BS ISO 17109 Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondaryion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
- 71
- BSI BS ISO 17109 Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondaryion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
- 71.040
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 14606 Surface Chemical Analysis - Sputter Depth Profiling - Optimization Using Layered Systems as Reference Materials - First Edition
- ISO 17109 Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films - First Edition
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Organization for Standardization
Surface Chemical Analysis - Depth Profiling - Measurement of Sputtered Depth - First Edition
N TR 15969
Автоматический перевод:
Поверхностный химический анализ - профилирование глубины - измерение бормотавшей глубины - первый выпуск
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
