ASTM E1523 Standard Guide to Charge Control and Charge Referencing Techniques in X-Ray Photoelectron Spectroscopy
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM E2108 Standard Practice for Calibration of the Electron Binding-Energy Scale of an X-Ray Photoelectron Spectrometer
- ASTM E1523 Standard Guide to Charge Control and Charge Referencing Techniques in X-Ray Photoelectron Spectroscopy
- 71
- ASTM E2108 Standard Practice for Calibration of the Electron Binding-Energy Scale of an X-Ray Photoelectron Spectrometer
- Картотека зарубежных и международных стандартов
ASTM International
Standard Guide to Charge Control and Charge Referencing Techniques in X-Ray Photoelectron Spectroscopy
N E1523
Annotation
This guide acquaints the X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) user with the various charge control and charge shift referencing techniques that are and have been used in the acquisition and interpretation of XPS data from surfaces of insulating specimens and provides information needed for reporting the methods used to customers or in the literature.
This guide is intended to apply to charge control and charge referencing techniques in XPS and is not necessarily applicable to electron-excited systems.
The values stated in SI units are to be regarded as standard. No other units of measurement are included in this standard.
This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use.
Автоматический перевод:
Типичный гид для зарядки методов ссылки контроля и нагрузки в фотоэлектронной спектроскопии рентгеновских лучей
Это руководство знакомит пользователя Спектроскопии фотоэлектрона рентгена (XPS) с различным управлением зарядом и методами ссылки сдвига заряда, которые являются и использовались в приобретении и интерпретации данных XPS от поверхностей изоляционных экземпляров, и предоставляет информацию, необходимую для создания отчетов о методах, привыкших к клиентам или в литературе.



