0 продуктов

Авторизация

JSA JIS K 0148 Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray florescence (TXRF) spectroscopy

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Japanese Standards Association

Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray florescence (TXRF) spectroscopy
 N JIS K 0148

 

Автоматический перевод:

 

Поверхностный химический анализ - Определение поверхностного элементного загрязнения на кремниевых пластинах спектроскопией цветения рентгена полного отражения (TXRF)

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ