JSA JIS K 0169 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Japanese Standards Association
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
N JIS K 0169
Автоматический перевод:
Поверхностный химический анализ - Масс-спектрометрия вторичного иона (SIMS) - Метод для оценки параметров резолюции глубины с многократными справочными материалами слоя дельты
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS ISO 20341 Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
- ISO 20341 Surface chemical analysis Secondary-ion mass spectrometry Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials - First Edition
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
