0 продуктов

Авторизация

ISO 11938 Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy - First Edition

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Organization for Standardization

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy - First Edition
 N 11938

 

Annotation

 

This International Standard provides procedures for electron microprobe elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectrometry. The choice between mapping with the electron beam moving digitally across the specimen (electron beam mapping) and mapping with stage movement only (large-area mapping) is assessed. It describes five types of data processing: the raw X-ray intensity data method, the k-value method, the calibration method, the correlation method and the matrix correction method.

 

Автоматический перевод:

 

Анализ микролуча — Электрон исследует микроанализ — Методы для элементно наносящего на карту анализа с помощью дисперсионной длиной волны спектроскопии - Первый Выпуск

Этот Международный стандарт предоставляет процедуры для анализа элементного отображения электронного микрозонда с помощью дисперсионной длиной волны спектрометрии. Выбор между отображением с электронным лучом, перемещающимся в цифровой форме через экземпляр (электронно-лучевое отображение) и отображением с движением стадии только (отображение большой площади), оценен. Это описывает пять типов обработки данных: сырой метод данных об интенсивности рентгена, метод численного значения константы равновесия, метод калибровки, корреляционный метод и матричный метод исправления.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ