0 продуктов

Авторизация

BSI BS ISO 14706 Surface Chemical Analysis - Determination of Surface Elemental Contamination on Silicon Wafers by Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Spectroscopy

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

British Standards Institution

Surface Chemical Analysis - Determination of Surface Elemental Contamination on Silicon Wafers by Total-Reflection X-Ray Fluorescence (TXRF) Spectroscopy
 N BS ISO 14706

 

Автоматический перевод:

 

Поверхностный химический анализ - определение поверхностного элементного загрязнения на кремниевых пластинах полным отражением делает рентген флуоресценции (TXRF) спектроскопия

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ