BSI BS ISO 21270 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers - Linearity of intensity scale
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
На него ссылаются
- В списке элементов: 6
- BSI BS ISO 18118 Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materialsПоверхностный химический анализ — спектроскопия Оже-электрона и фотоэлектронная спектроскопия Рентгеновских лучей — Справочник по использованию экспериментально решительных относительных факторов чувствительности для количественного анализа гомогенных материалов
Карточка документа - BSI PD ISO/TS 14101 Surface characterization of gold nanoparticles for nanomaterial specific toxicity screening: FT-IR methodПоверхностная характеристика золота nanoparticles для наноматериала определенное экранирование токсичности: метод FT-IR
Карточка документа - BSI BS ISO 16129 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometerПоверхностный химический анализ - делает рентген фотоэлектронной спектроскопии - Процедуры для оценки ежедневной производительности спектрометра фотоэлектрона рентгена
Карточка документа - BSI BS ISO 20903 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting resultsПоверхностный химический анализ - спектроскопия электрона Сверла и спектроскопия фотоэлектрона рентгена - Методы раньше определяли пиковую интенсивность, и информация потребовала при создании отчетов о результатах
Карточка документа - BSI BS ISO 10810 Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Guidelines for analysisПоверхностный химический анализ - делает рентген фотоэлектронной спектроскопии - Рекомендации для анализа
Карточка документа - BSI BS ISO 18516 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Determination of lateral resolutionПоверхностный химический анализ - спектроскопия электрона Сверла и спектроскопия фотоэлектрона рентгена - Определение боковой резолюции
Карточка документа
