IEC 62415 Semiconductor devices – Constant current electromigration test - Edition 1.0
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03.100
- 31
- 49
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Semiconductor devices – Constant current electromigration test - Edition 1.0
N 62415
Annotation
This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства – тест электромиграции Постоянного тока - Выпуск 1.0
Этот стандарт описывает метод для стандартного тестирования электромиграции постоянного тока металлических строк через строку и контакты.
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS EN 62415 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
- CENELEC EN 62415 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
