CENELEC EN 60749-36 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36: Acceleration, steady state
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
European Committee for Electrotechnical Standardization
Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36: Acceleration, steady state
N EN 60749-36
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 36 методов тестирования: Ускорение, устойчивое состояние
Эквиваленты данного стандарта:
- AENOR UNE-EN 60749-36 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state
- IEC 60749-36 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36: Acceleration, steady state - Edition 1.0
- BSI BS EN 60749-36 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 36: Acceleration, steady state
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
