AENOR UNE-EN 60749-33 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
N UNE-EN 60749-33
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 33: Ускоренная влагостойкость - Несмещенный автоклав
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 60749-33 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 33: Accelerated moisture resistance Unbiased autoclave
- IEC 60749-33 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave - Edition 1.0; Replaces IEC PAS 62172:2000
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
