European Committee for Electrotechnical Standardization

Semiconductor Devices  Mechanical and Climatic Test Methods Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST)
 N EN 60749-4

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 4 методов тестирования: влажное тепло, устойчивое состояние, Высоко ускоренный тест напряжения (HAST)

Эквиваленты данного стандарта:

• AENOR UNE-EN 60749-4 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
• BSI BS EN 60749-4 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST)
• IEC 60749-4 CORR 1 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST) CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.