IEC 60749-14 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) - Edition 1.0; Together with IEC 60749-31:2002, IEC 60749-3:2002 And IEC 60749-15:2003 Replaces IEC 60749:2002
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- 31
- 31.080
- CENELEC EN 60749-21 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
- CENELEC EN 60749-21 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
- IEC 60749-14 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) - Edition 1.0; Together with IEC 60749-31:2002, IEC 60749-3:2002 And IEC 60749-15:2003 Replaces IEC 60749:2002
- BSI BS EN 60749-13 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere - CORR 14113: September 17, 2002
- 31
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 10
- BSI PD IEC/TS 62686-1 Process management for avionics - Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductorsУправление процессами для авиационной радиоэлектроники - Электронные компоненты для космоса, защиты и высокой эффективности (ADHP) заявления Часть 1: Общие требования для высоких интегральных схем надежности и дискретных полупроводников
Карточка документа - IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 2.0Управление процессами для авиационной радиоэлектроники – Электронных компонентов для космоса, защиты и высокой эффективности (ADHP) заявления – Часть 1: Общие требования для высоких интегральных схем надежности и дискретных полупроводников - Издание 2.0
Карточка документа - IEC 61747-3-1 Liquid crystal display devices – Part 3-1: Liquid crystal display (LCD) cells – Blank detail specification - Edition 3.0Устройства жидкокристаллического дисплея – Часть 3-1: ячейки Жидкокристаллического дисплея (LCD) – Пробел детализирует спецификацию - Выпуск 3.0
Карточка документа - CEI EN 61747-10-1 Liquid crystal display devices Part 10-1: Mechanical test methodsЧасть 10-1 устройств жидкокристаллического дисплея: методы Механического испытания
Карточка документа - BSI BS EN 61747-10-1 Liquid crystal display devices Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods — MechanicalЧасть 10-1 устройств жидкокристаллического дисплея: Экологический, износостойкость и методы механического испытания — Механическое устройство
Карточка документа - CENELEC EN 61747-10-1 Liquid crystal display devices - Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods - MechanicalУстройства жидкокристаллического дисплея - Часть 10-1: Экологический, износостойкость и методы механического испытания - Механическое устройство
Карточка документа - IEC 61747-10-1 Liquid crystal display devices – Part 10-1: Environmental, endurance and mechanical test methods – Mechanical - Edition 1.0Устройства жидкокристаллического дисплея – Часть 10-1: Экологический, износостойкость и методы механического испытания – Механическое устройство - Выпуск 1.0
Карточка документа - BSI BS EN 60747-15 Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devicesПолупроводниковые устройства - Дискретные устройства - Часть 15: Изолированные устройства полупроводника питания
Карточка документа - IEC 60747-14-1 Semiconductor devices – Part 14-1: Semiconductor sensors – Generic specification for sensors - Edition 2.0Полупроводниковые устройства – Часть 14-1: Полупроводниковые датчики – Универсальная спецификация для датчиков - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 60749-13 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere - CORR 14113: September 17, 2002Полупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 13 методов тестирования: соленая атмосфера - CORR 14113: 17 сентября 2002
Карточка документа
