AENOR UNE-EN 60749-24 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
N UNE-EN 60749-24
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 24: Ускоренная влагостойкость - Несмещенный HAST
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 60749-24 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 24: Accelerated moisture resistance Unbiased HAST
- IEC 60749-24 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST - Edition 1.0; Replaces IEC PAS 62336:2002
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.



