IEC 62047-6 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials - Edition 1.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
International Electrotechnical Commission
Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials - Edition 1.0
N 62047-6
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 6: Осевые методы испытания на усталость тонкопленочных материалов - Выпуск 1.0
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 62047-6 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
- JSA JIS C 5630-6 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
- BSI BS EN 62047-6 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
