0 продуктов

Авторизация

BSI BS EN 60749-23 + A1 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life - AMD: June 30, 2011

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

British Standards Institution

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life - AMD: June 30, 2011
 N BS EN 60749-23 + A1

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 23: срок службы Высокой температуры - AMD: 30 июня 2011

 

Эквиваленты данного стандарта:

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ