0 продуктов

Авторизация

IEC 60749-4 CORR 1 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST) CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Electrotechnical Commission

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST) CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
 N 60749-4 CORR 1

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 4: влажное тепло, устойчивое состояние, Высоко ускоренный тест напряжения (HAST) CORRIGENDUM 1 - выпуск 1.0

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ