0 продуктов

Авторизация

BSI BS EN 62047-12 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

British Standards Institution

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
 N BS EN 62047-12

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханическая Часть 12 устройств: Изгиб метода испытания на усталость тонкопленочных материалов с помощью резонирующей вибрации структур MEMS

 

Эквиваленты данного стандарта:

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ