IEC 60749-3 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Examination - Edition 1.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
International Electrotechnical Commission
Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 3: External Visual Examination - Edition 1.0
N 60749-3
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 3: внешнее визуальное исследование - выпуск 1.0
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS EN 60749-3 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 3: External Visual Examination - CORR 14110: September 17, 2002
- AENOR UNE-EN 60749-3 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination.
- CENELEC EN 60749-3 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 3: External Visual Examination
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
