BSI BS EN 60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods - AMD 13434: January 8, 2002; AMD 14084: January 20, 2003; Remains Current
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- JSA JIS C 5942 General rules of laser diodes used for recording and playback
- 31
- 33
- JSA JIS C 5943 Measuring methods of laser diodes used for recording and playback
- IEC 62007-2 Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications – Part 2: Measuring methods - Edition 2.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
British Standards Institution
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods - AMD 13434: January 8, 2002; AMD 14084: January 20, 2003; Remains Current
N BS EN 60747-5-3
Annotation
To be read in conjunction with IEC 60747-1,IEC 62007-1,IEC 62007-2
Автоматический перевод:
Дискретные полупроводниковые устройства и интегральные схемы - Часть 5-3: Оптоэлектронные устройства - Измеряющиеся методы - AMD 13434: 8 января 2002; AMD 14084: 20 января 2003; Остается Текущим
Быть считанным в сочетании с IEC 60747-1, IEC 62007-1, IEC 62007-2
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3: Optoelectronic devices Measuring methods - Incorporates Amendment A1: 2002
- IEC 60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits – Part 5-3: Optoelectronic devices – Measuring methods - Edition 1.1 Consolidated Reprint
