CENELEC EN 62047-15 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC 62047-15 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass - Edition 1.0
- 31
- IEC 62047-15 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass - Edition 1.0
- 31.080
- IEC 62047-9 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - Edition 1.0
- IEC 62047-9 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - Edition 1.0
- IEC 62047-4 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 4: Generic specification for MEMS - Edition 1.0
- IEC 62047-9 CORR 1 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - Edition 1.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 2
- IEC 62047-9 CORR 1 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMS - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 9: Пластина к слоистому измерению прочности сцепления для MEMS - Выпуск 1.0
Карточка документа - CENELEC EN 62047-9 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 9: Wafer to wafer bonding strength measurement for MEMSПолупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 9: Пластина к слоистому измерению прочности сцепления для MEMS
Карточка документа
