CENELEC EN 60749-13 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
European Committee for Electrotechnical Standardization
Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 13: Salt Atmosphere
N EN 60749-13
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 13 методов тестирования: соленая атмосфера
Эквиваленты данного стандарта:
- AENOR UNE-EN 60749-13 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 13: Salt atmosphere.
- IEC 60749-13 CORR 1 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 13: Salt Atmosphere CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.



