ISO 16413 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting - First Edition
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Ссылается на
- В списке элементов: 2
- ISO 25178-2 Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Areal - Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters - First EditionГеометрические технические характеристики изделия (GPS) - Фактура поверхности: Ареал - Часть 2: Условия, определения и параметры фактуры поверхности - Первый Выпуск
Карточка документа - ISO ISO/IEC GUIDE 98-3 SUPP 2 Uncertainty of measurement - Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) Supplement 2: Extension to any number of output quantities - First EditionНеопределенность в измерении - Часть 3: Справочник по выражению неопределенности в измерении (GUM:1995) Приложение 2: Расширение к любому числу выходных количеств - Первый Выпуск
Карточка документа
