BSI BS IEC 60747-10 Semiconductor devices - Generic specification for discrete devices and integrated circuits - AMD 9348: February 1997; CORR: July 31, 2011
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 03
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 03.100
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 03.100.50
- 31
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 31.020
- IEC QC 001004 International Electrotechnical Commission Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) - Specifications List - Issue 1; Edition 2.0
- BSI BS QC 300203 Specification for Harmonized system of quality assessment for electronic components - AMD 5947: September 1988
- BSI BS 9000-3 General Requirements for a System for Electronic Components of Assessed Quality Part 3: Specification for the National Implementation of the IECQ System
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 5
- BSI BS 6001-1 + A1 Sampling procedures for inspection by attributes - Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection - CORR 13201: September 2001; AMD: July 31, 2011Выборочный контроль приема посредством количества ошибочных единиц или дефекта (контроли по качественному признаку). После подходящего пограничного высококачественного положения (AQL) упорядоченных приказов выборочных проверок для проверки серии жребиев посредством количества ошибочных единиц или дефектов - CORR 13 201: Сентябрь 2001; AMD: July 31, в 2011
Карточка документа - BSI BS 9000-3 General Requirements for a System for Electronic Components of Assessed Quality Part 3: Specification for the National Implementation of the IECQ SystemОбщие требования для системы для электронных компонентов оцененной качественной части 3: спецификация для национальной реализации системы IECQ
Карточка документа - BSI BS 6493-1.5 Semiconductor devices Part 1: Discrete devices Section 1.5 Recommendations for optoelectronic devices - AMD 8704: November 15, 1995; AMD 8957: May 1996; CORR 14242: March 27, 2003Полупроводниковая Часть 1 устройств: Дискретный Раздел устройств 1.5 Рекомендации для оптоэлектронных устройств - AMD 8704: 15 ноября 1995; AMD 8957: май 1996; CORR 14242: 27 марта 2003
Карточка документа - BSI BS 6493-2.3 Semiconductor Devices *- Part 2: Integrated Circuits - Section 2.3: Recommendations for Analogue Integrated Circuits - AMD 7035: July 1992; AMD 8240: August 1994; AMD 9298: February 15, 1997Полупроводниковые устройства *-часть 2: интегральные схемы - разделяют 2.3: рекомендации для аналоговых интегральных схем - AMD 7035: июль 1992; AMD 8240: август 1994; AMD 9298: 15 февраля 1997
Карточка документа - BSI BS 6493-1.3 Semiconductor Devices Part 1: Discrete Devices Section 1.3: Recommendations for Signal (Including Switching) and Regulator Diodes - AMD 7205: September 1992; AMD 8204: June 15, 1994Полупроводниковые конструктивные элементы. Отдельный полупроводник. Рекомендации для сигнала (включительно Переключения) и налоговых диодов - AMD 7205: Сентябрь 1992; AMD 8204: Джун 15, в 1994
Карточка документа
