BSI BS IEC 60748-23-2 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-2: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Internal Visual Inspection and Special Tests
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- AENOR UNE-EN 60068-3-7 Environmental testing -- Part 3-7: Supporting documentation and guidance - Measurements in temperature chambers for tests A and B (with load).
- 19
- AENOR UNE-EN 60068-3-7 Environmental testing -- Part 3-7: Supporting documentation and guidance - Measurements in temperature chambers for tests A and B (with load).
- 19.040
- AENOR UNE-EN 60068-3-7 Environmental testing -- Part 3-7: Supporting documentation and guidance - Measurements in temperature chambers for tests A and B (with load).
- AENOR UNE-EN 60068-2-2 Environmental testing -- Part 2-2: Tests - Tests B: Dry heat. (IEC 60068-2-2:2007)
- 29
- AENOR UNE-EN 60068-3-7 Environmental testing -- Part 3-7: Supporting documentation and guidance - Measurements in temperature chambers for tests A and B (with load).
- 29.020
- AENOR UNE-EN 60068-3-7 Environmental testing -- Part 3-7: Supporting documentation and guidance - Measurements in temperature chambers for tests A and B (with load).
- AENOR UNE-EN 60068-2-2 Environmental testing -- Part 2-2: Tests - Tests B: Dry heat. (IEC 60068-2-2:2007)
- AENOR UNE-EN 50130-5 Alarm systems - Part 5: Environmental test methods
- IEC 60068-3-4 Environmental Testing - Part 3-4: Supporting Documentation and Guidance - Damp Heat Tests - Edition 1.0
- IEC 60748-23-1 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-1: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Generic Specification - Edition 1.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 5
- IEC 60747-1 Semiconductor devices – Part 1: General - Edition 2.1 Consolidated ReprintПолупроводниковые устройства – Часть 1: Общий - Выпуск 2.1 Объединенная Перепечатка
Карточка документа - IEC 61340-5-1 Electrostatics – Part 5-1: Protection of electronic devices from electrostatic phenomena – General requirements - Edition 1.0Электростатика – Часть 5-1: Защита электронных приборов от электростатических явлений – Общих требований - Издание 1.0
На основе IEC 61340-5-1 разработан ГОСТ Р 53734.5.1-2009 (MOD)ГОСТ Р 53734.5.1-2009 (MOD) - IEC 60748-23-4 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-4: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Blank Detail Specification - Edition 1.0Полупроводниковые устройства - интегральные схемы - часть 23-4: гибридные интегральные схемы и пленочные структуры - производственная сертификация строки - пробел детализируют спецификацию - выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60748-23-3 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-3: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Manufacturers? Self-Audit Checklist and Report - Edition 1.0Полупроводниковые устройства - интегральные схемы - часть 23-3: гибридные интегральные схемы и пленочные структуры - производственная сертификация строки - самоконтрольный контрольный список производителей и отчет - выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60748-23-1 Semiconductor Devices - Integrated Circuits - Part 23-1: Hybrid Integrated Circuits and Film Structures - Manufacturing Line Certification - Generic Specification - Edition 1.0Полупроводниковые устройства - интегральные схемы - часть 23-1: гибридные интегральные схемы и пленочные структуры - производственная сертификация строки - универсальная спецификация - выпуск 1.0
Карточка документа
