0 продуктов

Авторизация

DIN EN 62047-8 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011)

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Deutsches Institut fur Normung e. V.

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8: Strip bending test method for tensile property measurement of thin films (IEC 62047-8:2011)
 N EN 62047-8

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 8: Полоса, изгибающая метод тестирования для растяжимого измерения свойства тонких пленок (62047-8:2011 IEC)

Эта Международная норма устанавливает метод испытания сгибай (en: strip вещь Бена тест) к измерению признаков требования поезда в тонких слоях и с высокой точностью, повторяемостью и приемлемыми издержками для установки, а также Handling микропроб по сравнению с обычными методами испытания поезда. Этот метод испытания при микропробах с толщинами применим между 50 нм и несколькими микрометрами, а также отношениями ширины к длине (отношение длины к толщине) больше чем 300.

Навешенная между 2 Einspannpunkten полоса (или архитрав) часто используется в MEMS-или микро-комплектующим изделиям системы. Это гораздо легче производить эту структуру чем обычный поезд проверяемый образец. Проверочные проведения настолько просты, что они поддаются автоматизации без следующего. Эта Международная норма может использоваться для контролей качества в производстве MEMS, так как проверочные результаты сравнимы в очень высокой мере с ними обычными методами испытания поезда.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ