CENELEC EN 60749-2 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 2: Low Air Pressure
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
European Committee for Electrotechnical Standardization
Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 2: Low Air Pressure
N EN 60749-2
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 2 методов тестирования: низкое воздушное давление
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS EN 60749-2 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure
- IEC 60749-2 CORR 1 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 2: Low Air Pressure CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
