0 продуктов

Авторизация

DIN EN 60749-42 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014)

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Deutsches Institut fur Normung e. V.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014)
 N EN 60749-42

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 42: Температура и устройство хранения данных влажности (60749-42:2014 IEC)

В этой части Международной комиссии по электротехнике 60 749 метод испытания установлен к оценке времени жизни полупроводниковых элементов, которые применяются при условиях эксплуатации с высокими температурами и высокой относительной воздушной влажностью.

Этот метод испытания используется, чтобы оценивать время жизни чипов полупроводника, которые смонтированы в пластмассовых корпусах или других конструкциях корпуса, в зависимости от коррозии ее металлической конструктивной техники и техники соединений. Этот метод испытания может использоваться также для ускорения процессов пробоины вследствие миграции данных влажности слоем пассивирования или для предварительной обработки при различных методах испытания.

 

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ