AENOR UNE-EN 60749-9 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 9: Permanence of marking.
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 9: Permanence of marking.
N UNE-EN 60749-9
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 9: Постоянство маркировки.
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 60749-9 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 9: Permanence of Marking
- IEC 60749-9 CORR 1 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 9: Permanence of Marking CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
