CENELEC EN 62047-12 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12: Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- ISO 12107 Metallic materials - Fatigue testing - Statistical planning and analysis of data - Second EditionМеталлические материалы - Испытание на усталость - Статистическое планирование и анализ данных - Второй Выпуск
Карточка документа - CENELEC EN 62047-3 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices Part 3: Thin film standard test piece for tensile testingПолупроводниковые устройства - Микроэлектромеханическая Часть 3 устройств: Тонкопленочный испытательный образец стандарта для испытания на растяжение
Карточка документа - IEC 62047-2 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 2: Tensile testing method of thin film materials - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 2: метод Испытания на растяжение тонкопленочных материалов - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 62047-3 Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices – Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing - Edition 1.0Полупроводниковые устройства – Микроэлектромеханические устройства – Часть 3: Тонкопленочный испытательный образец стандарта для испытания на растяжение - Выпуск 1.0
Карточка документа
