IEC 60444-5 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction - Edition 1.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- CENELEC EN 60444-11 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
- 31
- CENELEC EN 60444-11 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
- 31.140
- CENELEC EN 60444-11 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
- BSI BS EN 60444-11 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency ?L and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
- IEC 60444-5 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 5: Methods for the Determination of Equivalent Electrical Parameters Using Automatic Network Analyzer Techniques and Error Correction - Edition 1.0
- IEC 60444-11 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction - Edition 1.0
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 7
- CEI EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)Измерение Части 6 параметров модуля кристалла кварца: Измерение зависимости уровня диска (DLD)
Карточка документа - DIN EN 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2013)Измерение параметров модуля кристалла кварца - Часть 6: Измерение зависимости уровня диска (DLD) (60444-6:2013 IEC)
Карточка документа - BSI BS EN 60444-6 Measurement of Quartz Crystal Unit Parameters - Part 6: Measurement of Drive Level Dependence (DLD)Измерение параметров модуля кристалла кварца - часть 6: измерение Зависимости уровня диска (DLD)
Карточка документа - IEC 60444-6 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) - Edition 2.0Измерение параметров модуля кристалла кварца – Часть 6: Измерение зависимости уровня диска (DLD) - Выпуск 2.0
Карточка документа - BSI BS EN 60444-11 Measurement of quartz crystal unit parameters Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency ?L and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correctionИзмерение Части 11 параметров модуля кристалла кварца: Стандартный метод для определения ?L резонансной частоты загрузки и эффективной емкости загрузки ЦЛЕВ, использующий автоматические методы анализатора сетей и коррекцию ошибок
Карточка документа - IEC 60444-11 Measurement of quartz crystal unit parameters – Part 11: Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction - Edition 1.0Измерение параметров модуля кристалла кварца – Часть 11: Стандартный метод для определения резонансной частоты загрузки fL и эффективной емкости загрузки ЦЛЕВ, использующий автоматические методы анализатора сетей и коррекцию ошибок - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60122-1 Quartz Crystal Units of Assessed Quality - Part 1: Generic Specification - Edition 3.0; Replaces IEC 61178-1, 1983 and IEC 60302, 1969Модули кристалла кварца оцененного качества - часть 1: универсальная спецификация - выпуск 3.0; замены IEC 61178-1, 1983 и IEC 60302, 1969
На основе IEC 60122-1 разработан ГОСТ Р МЭК 60122-1-2009 (IDT)ГОСТ Р МЭК 60122-1-2009 (IDT)
