BSI BS QC 300203 Specification for Harmonized system of quality assessment for electronic components - AMD 5947: September 1988
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 03
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 03.100
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 03.100.50
- 31
- IEC TS 62239 Process management for avionics Preparation of an electronic components management plan - Edition 1.0
- 31.020
- IEC QC 001004 International Electrotechnical Commission Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) - Specifications List - Issue 1; Edition 2.0
- BSI BS QC 300203 Specification for Harmonized system of quality assessment for electronic components - AMD 5947: September 1988
- BSI BS 9000-3 General Requirements for a System for Electronic Components of Assessed Quality Part 3: Specification for the National Implementation of the IECQ System
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 4
- BSI BS 6001-4 Sampling procedures for inspection by attributes - Part 4: System of sequential sampling plans indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection - CORR 16506: June 2006Выборка процедур для проверки признаками - Часть 4: Система последовательных планов выборочного контроля, внесенных в указатель качественным лимитом принятия (AQL) для проверки партии по жребию - ПОПРАВКА 16506: июнь 2006
Карточка документа - BSI BS 6001-1 + A1 Sampling procedures for inspection by attributes - Part 1: Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection - CORR 13201: September 2001; AMD: July 31, 2011Выборочный контроль приема посредством количества ошибочных единиц или дефекта (контроли по качественному признаку). После подходящего пограничного высококачественного положения (AQL) упорядоченных приказов выборочных проверок для проверки серии жребиев посредством количества ошибочных единиц или дефектов - CORR 13 201: Сентябрь 2001; AMD: July 31, в 2011
Карточка документа - BSI BS 9000-3 General Requirements for a System for Electronic Components of Assessed Quality Part 3: Specification for the National Implementation of the IECQ SystemОбщие требования для системы для электронных компонентов оцененной качественной части 3: спецификация для национальной реализации системы IECQ
Карточка документа - BSI BS QC 300200 Harmonized system of quality assessment for electronic components Fixed capacitors for use in electronic equipment Sectional specification: Fixed tantalum capacitors with solid or non-solid electrolyte - AMD 5950: July 1992Согласованная система качественной оценки для электронных компонентов Фиксированные конденсаторы для использования в электронном оборудовании Частная спецификация: Фиксированные танталовые конденсаторы с твердым или нетвердым электролитом - AMD 5950: июль 1992
Карточка документа
