ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37.040
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37.040.20
- ASTM E2444 Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
- 01
- ASTM E2444 Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
- ASTM E2244 Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- ASTM E2245 Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- ASTM E2530 Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic Steps
- Картотека зарубежных и международных стандартов
На него ссылаются
- В списке элементов: 3
- ASTM E2245 Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical InterferometerСтандартный метод тестирования для остаточных измерений напряжения тонких, отражающихся фильмов Используя оптический интерферометр
Карточка документа - ASTM E2244 Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical InterferometerСтандартный метод тестирования для измерений длины в плоскости тонких, отражающихся фильмов Используя оптический интерферометр
Карточка документа - ASTM E2444 Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting FilmsТерминология, касающаяся измерений, взятых тонкие, отражающиеся фильмы
Карточка документа
