BSI BS EN 60749-18 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) - CORR 14531: July 1, 2003; CORR 15225: June 29, 2004
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
British Standards Institution
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) - CORR 14531: July 1, 2003; CORR 15225: June 29, 2004
N BS EN 60749-18
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 18: Атомная радиация (суммарная доза) - CORR 14531: 1 июля 2003; CORR 15225: 29 июня 2004
Эквиваленты данного стандарта:
- IEC 60749-18 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) - Edition 1.0
- AENOR UNE-EN 60749-18 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
