0 продуктов

Авторизация

DIN EN 62047-11 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems (IEC 62047-11:2013)

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Deutsches Institut fur Normung e. V.

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems (IEC 62047-11:2013)
 N EN 62047-11

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Микроэлектромеханические устройства - Часть 11: Метод тестирования для коэффициентов линейного теплового расширения автономных материалов для микроэлектромеханических систем (62047-11:2013 IEC)

Эта часть Международной комиссии по электротехнике 62 047 помещает процесс твердо к измерению линейного теплового коэффициента расширения (CLTE) (en: coefficient of линейно thermal экспансию) от тонкого, свободный твердый (металлический, керамический, полимерный и т.д.) материалам микросистемотехники (MEMS) (en: microelectro-mechanical систему) с удлинением между 0,1 мм и 1 мм, шириной между 10 m и 1 мм и толщины между 0,1 m и 1 мм, которые используются как основные компоненты для MEMS, микро-комплектующих изделий и других. Этот метод испытания подходит к измерению CLTE в области температуры комнатной температуры до 30% температуры плавления материала.

 

 

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ