AENOR UNE-EN 60749-4 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
N UNE-EN 60749-4
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 4: Влажное тепло, устойчивое состояние, высоко ускоренный тест напряжения (HAST).
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
